Aplicación del método Rietveld para el análisis cuantitativo de fases en el composito YBa2Cu3O7/ NdBa2SbO6 usando datos de difracción de rayos X

• Autores: Eiccer Perea de la Espriella, D.A. Landínez Téllez, Jairo Roa Rojas
• Localización: Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 38, Nº. 3, 2006, págs. 1134-1137
• Idioma: español
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• Resumen
  • español

    En el presente trabajo se presenta el análisis de datos de difracción de rayos x de polvo, mediante la aplicación del método Rietveld, con el fin de determinar cuantitativamente los porcentajes en peso de las fases presentes en el compósito YBa2Cu3O7/NdBa2SbO6. Realizamos un refinamiento de la estructura cristalina de las dos fases presentes, mediante la utilización del software GSAS. Estos estudios nos permiten confirmar que los dos materiales (YBa2Cu3O7/NdBa2SbO6) son estables químicamente aun después de permanecer en contacto durante varias horas a 900 °C.

  • English

    The main objective of this work is to analyze data of x-ray diffraction, by means of the application of Rietveld method. Quantitative analysis permited to determine the weight percentage of the present phases in the YBa2Cu3O7/NdBa2SbO6 composite. We was made a refinement of the crystalline structure for the two present phases, by using the GSAS software. These studies allow us to confirm that both materials (YBa2Cu3O7/NdBa2SbO6) they are chemically stable even after remaining in contact during several hours to 900° C.