Reliability of SnPb and Pb-free flip¿chips under different test conditions.

• Autores: M. Spraul, W. Nüchter, A. Möller, B. Wunderle, B. Michel
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 252-258
• Idioma: inglés
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