Comparative analysis of RF LDMOS capacitance reliability under accelerated ageing tests.

• Autores: M.A. Belaïd, K. Ketata, M. Gares, K. Mourgues, M. Masmoudi, K. Yasutake
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 59-64
• Idioma: inglés
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