Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I¿V and noise measurements.

• Autores: M.M. Jevtic, J.M. Hadzi-Vokovic
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 51-58
• Idioma: inglés
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