Non-destructive characterization of recrystallization kinetics using three-dimensional X-ray diffraction microscopy

• Autores: D. Juul Jensen, S.F. Nielsen, S. Schmidt, E.M. Lauridsen, H.F. Poulsen, L. Margulies
• Localización: Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 55, Nº. 1, 2006, págs. 51-56
• Idioma: inglés
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