Contribution to size effect of yield strength from the stochastics of dislocation source lengths in finite samples

• Autores: Satish I. Rao, Michael D. Uchic, Triplicane A. Parthasarathy, Dennis M. Dimiduk, Dallas R. Trinkle
• Localización: Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 56, Nº. 4, 2007, págs. 313-316
• Idioma: inglés
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