Fragmentation processes of C~6~0 in multiple electron loss and capture collisions of 2-MeV Si^2^+

• Autores: H. Tsuchida, Y. Nakai, T. Mizuno, T. Majima
• Localización: Physical review A: atomic, molecular and optical physics, ISSN 1050-2947, Vol. 74, Nº. 3, 2006, pág. 33201
• Idioma: inglés
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