Obtención y caracterización de películas delgadas de cu/ni sobre sustratos de zamak mediante la técnica de corriente pulsante inversa

• Autores: William A. Aperador Chaparro, M. Mora, M. Álvarez, A. Camargo, Elba Vera
• Localización: Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 38, Nº. 4, 2006, págs. 1343-1346
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se presenta la implementación de la técnica de corriente pulsante inversa para electrodepositar películas delgadas Cu/Ni en forma de bicapa sobre sustratos de zamak, controlando los voltajes y tiempos de electrodeposición anódicos (V Low, T Low ) y catódicos (V High, T High ), obteniendo como respuesta el monitoreo de la corriente anódica (I Low ) y catódica (I High ) en función del tiempo anódico (T Low ) y catódico (T High ), respectivamente. Utilizando Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) se observó que el control pulsante del voltaje durante el depósito permite obtener películas de Cu/Ni más densas y de tamaño de grano más fino, que las películas convencionales depositadas por la técnica de corriente directa. Se determinó la composición química de las capas usando la sonda de difracción de rayos X (EDX) con el microscopio electronico de barrido.