Trapped Electromagnetic Modes and Scaling in the Transmittance of Perforated Metal Films

• Autores: S. Selcuk
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 97, Nº. 6, 2006, pág. 67403
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)