Análisis avanzado de componentes electrónicos y conexiones utilizando tecnología microfocus de rayos X

• Autores: Fred Shlieper
• Localización: Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 568, 2002, págs. 58-62
• Idioma: español
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• Resumen

  • Este artículo trata las necesidades de unas buenas prestaciones en sistemas de inspección con Rayos X que conduzcan a pruebas repetibles y con un flujo rápido de la información requerida. Las necesidades de tener información avanzada de laboratorio, así como en la línea de producción, son tratadas con ejemplos t requerimientos del sistemas. También se van a tratar las necesidades de comunicación global de esta información, desde el diseño, a la implementación y a la producción en línea