S. Solano, C. A. Ramírez, N. A. Gómez, P. Torres
En este trabajo se muestra que el perfil de índice de refracción de fibras ópticas se puede determinar analizando el patrón de campo cercano transmitido con el método de elementos finitos. Se presenta brevemente el principio del método y se evalua comparando los resultados obtenidos con medidas experimentales con el método RNF en un fibras de núcleo de silicio puro y para una fibra LEAF.
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