Resumen de Correlación entre estados de enlace de plomo y oxígeno con las propiedades ferroeléctricas de películas delgadas de pzt
Alejandra Cortés Silva, P. Prieto, W. Lopera, E. Delgado
Las propiedades ferroeléctricas y los estados de enlace químico de películas delgadas de PbZr0.52Ti0.48O3 (PZT) depositadas sobre SrRuO3/SrTiO3 por pulverización catódica fueron inves-tigados mediante la técnica de Espectroscopía de Fotoelectrones de rayos-X (XPS). Se logró de-terminar las energías de enlace en la superficie, así como también la composición química de pelí-culas delgadas ferroeléctricas de PZT. Por medio de un sistema de medidas ferroeléctricas de la Radiant Technologies (RT 66A) se obtuvieron curvas histeréticas de polarización en función del campo eléctrico a temperatura ambiente, con valores de 35.3 ?C/cm2, 64.5 ?C/cm2 y 171.4 kV/cm, para polarización remanente, polarización de saturación y campo coercitivo, respectivamente. Ob-tuvimos una correlación entre las energías de enlace y las propiedades ferroeléctricas de las pelícu-las de PZT.
