Modeling the I-V characteristics of the power microwave FETs with the Angelov model using pulse measurements

• Autores: J. R. Loo-Yau, J. A. Reynoso-Hernandez
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 48, Nº. 6, 2006, págs. 1046-1050
• Idioma: inglés
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