O.G. Ibarra-Manzano, E. Alvarado-Méndez, R. Rojas-Laguna, M. Trejo Durán, O. Vite Chávez, Reynel Olivera Reyna, José Amparo Andrade-Lucio, Julián Moisés Estudillo Ayala, Heriberto Gutiérrez Martín, Roberto Olivera Reyna
Se presenta un control automático simple para aplicaciones de caracterización óptica de materiales usando la técnica Z-scan. En particular, se enfatiza el proceso de automatización. Para este propósito, se usó un puerto de comunicación de I/O de una tarjeta de adquisición de datos PCIMIO-16E (de Nacional Inseruments), así como el lenguaje de programación gráfica LabVIEW.
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