TOF-SIMS Analysis Using C₆₀. Effect of Impact Energy on Yield and Damage

• Autores: John C. Vickerman, Nicholas P. Lockyer, Emrys A. Jones, Greg Biddulph, Xavier A. Conlan, John S. Fletcher
• Localización: Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, Nº. 6, 2006, págs. 1827-1831
• Idioma: inglés
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