Multiparadigm Modeling of Dynamical Crack Propagation in Silicon Using a Reactive Force Field

• Autores: A. C. van Duin, M. J. Buehler
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 96, Nº. 9, 2006, pág. 95505
• Idioma: inglés
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