El presente artículo trata la detección de cavidades y blandones en facies yesíferas del sur de Madrid, mediante tomografía eléctrica en dos casos prácticos. El primero de ellos, realizado en Rivas, donde el substrato geológico comprende yesos tableados y nodulares alternados con arcillas grises y marrones. El segundo caso, llevado a cabo en el Ensanche de Vallecas, donde los materiales consisten fundamentalmente en arcillas y margas, intercalados con niveles de arcillas y yesos. Los datos obtenidos en los perfiles tomográficos se han calibrado con campañas de prospección geotécnica (sondeos geotécnicos y ensayos a penetración dinámica).
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