Caracterización mediante difracción de Rayos X de estructuras semiconductoras III-V para aplicaciones en comunicaciones ópticas

• Autores: A. Sanz-Hervás, D. I. Paz, Evaristo Abril Domingo, A. Alonso, G. de Benito, C. Llorente, M. T. López, M. Aguilar
• Localización: IX Simposium Nacional : Las Palmas de Gran Canaria, 21-23 de septiembre de 1994 / coord. por Manuel J. Betancor García, Rafael Pérez-Jiménez, Eugenio Jiménez Yguacel, Vol. 2, 1994, págs. 888-892
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)