Deep defects generated in n-conducting ZnO:TM thin films

• Autores: G. Biehne, D. Spemann, M. Lorenz, M. Diaconu, H. von Wenckstern, H. Schmidt, H. Hochmuth, M. Grundmann
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 137, Nº. 8, 2006, págs. 417-421
• Idioma: inglés
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