Medidas de las INL/DNL en los convertidores A/D de alta velocidad

• Autores: Tanja C. Hofner
• Localización: Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 544, 2000, págs. 70-74
• Idioma: español
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• Resumen

  • Los fabricantes de circuitos integrados han desarrollado últimamente convertidores analógicos-digitales (ADC) de muy altas presataciones. Una pregunta que surge inmediatamente es: ¿Cómo se miden estas prestaciones y con qué equipo?.

    Este artículo muestra las técnicas para comprobar dos de los parámetros más importantes en los ADC: la no-linealidad integral (INL) y la no-linealidad diferencial (DNL).