Tapping mode atomic force microscope combined with reflection scanning near-field optical microscope (AF/RSNOM)

• Autores: Yinli Li, Jian Zhang, Pengfei Li, Shi Pan, Shifa Wu
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 258, Nº. 2, 2006, págs. 275-279
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)