Photothermal Depth Profiling by Thermal Wave Backscattering and Genetic Algorithms

• Autores: R. L. Voti, C. Sibilia, M. Bertolotti
• Localización: International Journal of thermophysics: Journal of thermophysical properties and thermophysics and its applications, ISSN 0195-928X, Nº. 6, 2005, págs. 1833-1848
• Idioma: inglés
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