Localized Electronic Excitations in NiO Studied with Resonant Inelastic X-Ray Scattering at the Ni M Threshold: Evidence of Spin Flip

• Autores: G. Ghiringhelli, S. G. Chiuzbaian
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 95, Nº. 19, 2005, pág. 197402
• Idioma: inglés
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