Measurement of surface profile in vibrating environment with instantaneous phase shifting interferometry

• Autores: B. Tan, K. Venkatakrishnan, N.R. Sivakumar
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 257, Nº. 2, 2006, págs. 217-224
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)