Sistemas de test de bajo coste para micro-controladores

• Autores: J. Díaz, M. A. Álvarez, J. C. Hevia
• Localización: Mundo electrónico, ISSN 0300-3787, Nº 274, 1997, págs. 64-68
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)