Progress in powder and surface X-ray diffraction crystallography

• Autores: Carles Miravitlles Torras, Jorge Rius Palleiro, Xavier Torrelles
• Localización: Contributions to Science, ISSN-e 1575-6343, Vol. 2, Nº. 1, 2001, págs. 95-103
• Idioma: inglés
• Enlaces
  • Texto completo
• Resumen
  • català

    Una de les fites científiques més importants del segle XX ha estat sens dubte la descoberta de la difracció dels raigs X per la matèria cristal·lina i l'aprofitament d'aquest procés en la determinació de l'estructura cristal·lina dels materials. Tanmateix, no és fins a la darreria de segle que arriba la maduresa en aquest camp amb la solució gairebé automàtica de les estructures cristal·lines petites. Amb la maduresa emergeixen noves aplicacions dels mètodes de difracció. Cal destacar, entre les més importants per a la Ciència de Materials, la determinació de les estructures cristal·lines a partir de dades provinents de la difracció dels raigs X en pols cristal·lina, així com també la determinació de la disposició atòmica en les superfícies dels substrats i dels corresponents dipòsits, quan n'hi ha. Com que els avenços en aquestes dues aplicacions van estretament lligats a una reinterpretació recent dels mètodes directes tradicionals de solució d'estructures cristal·lines, s'ha cregut convenient fer-ne una breu introducció. Seguidament, es comentaran les modificacions introduïdes en aquests mètodes, per tal de poder tractar les particularitats específiques d'aquestes dues noves aplicacions, i finalment, es descriuran alguns exemples.

  • English

    One of the most important scientific achievements of the XX century has been without any doubt the discovery of X-ray diffraction by crystalline matter and the subsequent use of this process to determine the crystal structures of the materials. This field matured at the end of the century with the almost automated solution of the crystal structures of small compounds, allowing various new applications of X-ray diffraction methods to emerge. Among the most relevant ones for Materials Sciences one may mention the solution of crystal structures from X-ray powder diffraction intensity data or the determination of atomic arrangements in the surfaces of substrates and, eventually, of the corresponding depositions. Since these advances are closely related to a recent reinterpretation of the traditional direct methods of solving crystal structures, a short introduction to them will be given first. Then we deal with the modification of such methods to cope with the particularities of these two applications and, finally, some examples will be described.