Polarization sensitivity characterization under normal incidence of a multiple quantum wells saturable absorber nonlinear mirror as a function of the temperature of the chip

• Autores: Jean-Claude Simon, Sylvain Fève, Elodie Le Cren, Sébastien Lobo
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 254, Nº. 1, 2005, págs. 96-103
• Idioma: inglés
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