Edge sensitivity of ¿edgeless¿ silicon pad detectors measured in a high-energy beam
Autores:V. Avati, S. Klauke, L. Mirabito, T.O. Niinikoski, T. Boccali, V.G. Palmieri, L. Casagrande, A. Morelli, P. Rato Mendes, B. Perea Solano, W. Chen, K. Eggert, E. Heijne, F. Oljemark, V. Boccone, M. Bozzo, R. Capra, T. Mäki, Z. Li, M.C. Abreu