Preparation and in Situ Characterization of Surfaces Using Soft Landing in a Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometer

• Autores: R. Graham Cooks, Jormarie Álvarez
• Localización: Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, Nº. 11, 2005, págs. 3452-3460
• Idioma: inglés
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