On the Solution Accuracy of FET Nonlinear Current Model Extraction for VoIterra-Series Analysis

• Autores: C. C. Huang, K. Y. Chen
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 45, Nº. 5, 2005, págs. 400-402
• Idioma: inglés
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