Detection and Evaluation of Deterministic Jitter Causes in CP-PLLâ¿¿s Due to Macro Level Faults and Pre-Detection Using Simple Methods

• Autores: M. J. Burbidge
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 3, 2005, págs. 267-281
• Idioma: inglés
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