Simultaneous measurement of various optical parameters in a multilayer optical waveguide by a Michelson precision reflectometer

• Autores: J.-P. Chen, Y.-P. Wang
• Localización: Optics letters: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0146-9592, Nº. 9, 2005, págs. 979-981
• Idioma: inglés
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