FEM analysis of current limiting devices using superconducting thin film and AC losses of YBCO coated conductor

• Autores: S. Sugita, Y. Ichiki, H. Ohsaki
• Localización: Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 23, Nº 4, 2004, págs. 1092-1099
• Idioma: inglés
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