Evolutionary algorithms for state justification in sequential automatic test pattern generation

• Autores: Sadiq M Sait, Syed Z Shazli, Aiman H El-Maleh
• Localización: International journal of engineering intelligent systems for electrical engineering and communications, ISSN 0969-1170, Vol. 13, Nº 1, 2005, págs. 15-21
• Idioma: inglés
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