Application of the total internal reflection phenomenon as a gas sensing technique using evaporated SnO2 thin films

• Autores: M. Aguilar-Frutis, L. Martínez Pérez, V. Altuzar, M. Lozada-Cassou, O. Zelaya-Angel, N. Muñóz Aguirre, V. Garibay-Febles
• Localización: Revista Mexicana de Física, ISSN-e 0035-001X, Vol. 50, Nº. 5, 2004, págs. 518-521
• Idioma: inglés
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