Atom chips in the real world: the effects of wire corrugation

• Autores: H. Nguyen, C. Aussibal, I. Bouchoule, A. Aspect, C. I. Westbrook, J.-B. Trebbia, J. Estève, D. Mailly, T. Schumm, C. Figl
• Localización: European physical journal D: Atomic, molecular and optical physics, ISSN 1434-6060, Vol. 32, Nº. 2, 2005, págs. 4-40
• Idioma: francés
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