Numerical Simulation of Scanning Electrochemical Microscopy Experiments with Frame-shaped Integrated Atomic Force Microscopy-SECM Probes Using the Boundary Element Method

• Autores: Emmerich Bertagnolli, Alois Lugstein, Gunther Wittstock, Oleg Sklyar, Christine Kranz, Angelika Kueng, Boris Mizaikoff
• Localización: Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, Nº. 3, 2005, págs. 764-771
• Idioma: inglés
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