A Combination of FDTD and Least-Squares Support Vector Machines for Analysis of Microwave Integrated Circuits

• Autores: S. M. Hu, Y. Yang, R. S. Chen
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 44, Nº. 3, 2005, págs. 296-299
• Idioma: inglés
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