High pressure X-ray diffraction and electrical resistance study of the quasi-one-dimensional sulfide InV<sub>6</sub>S<sub>8</sub>
- Autores: T. Ohtani, H.D. Hochheimer, B.R. Martin, B.K. Godwal, Alka B. Garg, Velusamy Vijayakumar
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 132, Nº. 11, 2004, págs. 731-736
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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