Characterization of oxide layers on amorphous Mg-based alloys by Auger electron spectroscopy with sputter depth profiling

• Autores: R. V. Subba Rao, U. Wolff, S. Baunack
• Localización: Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 375, Nº 7, 2003, págs. 896-901
• Idioma: alemán
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