Electrical and optical properties of rod-like defects in silicon

• Autores: T.A.G. Eberlein, J.P. Goss, S. Öberg, N. Pinho, R. Jones, A.T. Blumenau, P.R. Briddon
• Localización: Applied physics letters, ISSN 0003-6951, Vol. 85, Nº. 20, 2004, págs. 4633-4635
• Idioma: inglés
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