Run-length distributions of special-cause control charts for correlated processes

• Don G. Wardell ^[1] ; Hebert Moskowitz ^[2] ; Robert D. Plante ^[2]
  1. [1] University of Utah

     University of Utah

     Estados Unidos

     
  2. [2] Purdue University

     Purdue University

     Township of Wabash, Estados Unidos

     
• Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 39, Nº. 6, 1994, págs. 601-602
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)