Hondar-tentsio mikroskopikoen neurketa ioi-izpi bidezkomekanizazioa eta irudien korrelazio digitala erabiliz

• A. Dorronsoro ^[1] ; J.M. Martinez-Esnaola ^[1] ; J. Alkorta ^[1]
  1. [1] CEIT-Basque Research and Technology Alliance (BRTA) ; Nafarroako Unibertsitatea, Tecnun
• Localización: Materialen Zientzia eta Teknologia VI. Kongresua: lanen bilduma / coord. por Borja Erice Echávarri, 2024, págs. 266-271
• Idioma: euskera
• Enlaces
  • Texto Completo Libro (pdf)
• Resumen

  • Hondar-tentsioek eragin handia dute osagaien gaitasun mekanikoetan, bereziki nekearekinlotutako aplikazioetan. Lan honetan, hondar-tentsioak eskala mikroskopikoan neurtzeko teknika bat aurkeztenda. Teknikaren funtsa tentsio-egoera aldatzean datza, ioi-izpi baten bidez material bolumen txiki batdeuseztatuz hain zuzen, tamaina mikroskopikoa duen zirrikitu bat sortuz. Zirrikituaren paretetan tentsionormalak eta planotik kanpoko ebakidura-tentsioak nuluak direnez, inguruko materiala berrantolatu egiten da.Gainazaleko deformazioak detektatuz, erlaxazioaren aurretik zegoen tentsioa kalkulatu daiteke.Desplazamenduak neurtzeko, ekorketazko mikroskopio elektronikoa erabiliz ateratako erresoluzio handikoirudiak alderatzen dira, zirrikitua egin aurretik eta ondoren, irudien korrelazio digitalerako algoritmoakaplikatuz. Neurtutako desplazamenduak tentsioekin lotu ahal izateko, elementu finituen metodo bidezkokalkuluak erabiltzen dira. Egindako neurketa batzuk X izpien difrakzio bidez lortutako emaitzekin alderatudira, eta haien bateragarritasuna egiaztatu.