Revista española de electrónica

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  Año 2002, Número 575

  • La tecnología de silicio-germanio permite realizar innovaciones para pruebas y medidas

    Neil Huddlestone

    • Resumen

    pág. 60

    

  • Seis razones por las cuales las empresas están apoyando la tecnología inalámbrica

    Steve Wylie

    • Resumen

    págs. 62-63

    

  • Inspección óptica automática (AOI) de placas de circuito impreso

    • Resumen

    págs. 64-65

    

  • Las sorprendentes ventajas de la memoria profunda

    Jay Alexander

    • Resumen

    pág. 66

    

  • Medida de la potencia de canal en el dominio del tiempo

    • Resumen

    págs. 68-69

    

  • Microcontroladores avanzados dsPIC para proyectos vanguardistas

    José María Angulo Usategui, Iván Trueba, Javier Vicente Sáez, Ignacio Angulo Martínez, Begoña García-Zapirain, Ibon Oleagordia Ruiz

    • Resumen

    págs. 70-74

    

  • Nueva herramienta de medida automática de potencia que incrementa la eficiencia de los osciloscopios

    • Resumen

    págs. 76-77

    

  • Infrarrojos y Bluetooth: Soluciones complementarias

    Evelyn Tay

    • Resumen

    págs. 78-80