págs. 555-556
SPC Q charts for a binomial parameter p: Short or long runs
págs. 557-560
págs. 561-563
Clustered defects in IC fabrication: Impact on process control charts
págs. 565-568
págs. 569-570
págs. 571-573
págs. 575-576
QFD: A practical implementation
págs. 577-578
págs. 579-580
págs. 581-583
págs. 585-586
págs. 587-591
págs. 593-594
págs. 595-596
págs. 597-599
págs. 601-602
págs. 603-604
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