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págs. 565-568
págs. 569-574
págs. 575-580
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Optical characterization of thin and ultrathin chromium films
J. M. Siqueiros, R. Machorro, Shu Wang, L.E. Talavera, J. Portelles, F. Villa
págs. 593-596
págs. 597-603
págs. 604-607
págs. 608-612
págs. 613-622
Errata: Estimación simultánea de índice de refracción y de espesor de placas dieléctricas plano-paralelas contando franjas de interferencia: un caso para regresión generalizada
R. Pastrana-Sánchez, G. Rodríguez Zurita, J. Vázquez Castillo
págs. 623-628
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