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Scaling of iDDT Test Methods for Random Logic Circuits
A. Chehab, R. Makki, S. Patel
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An Efficient Dictionary Organization for Maximum Diagnosis
S. Kim, S. Chun, H. S. Kim
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A Self Test Program Design Technique for Embedded DSP Cores
H. Rizk, C. Papachristou
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págs. 101-107
Modulo p = 3 Checking for a Carry Select Adder
V. Ocheretnij
págs. 101-107
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