Using Accelerated Life Tests Results to Predict Product Field Reliability. (2009) Meeker, William Q. Escobar, Luis A. Hong, Yili Technometrics. A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences Vol. 51 Núm. 2 Pág. 146-161
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Artículos citantes
| Artículo citante | Anualidad | Localización | Autores |
|---|---|---|---|
| Characteristics of two Competing Risks Models with Weibull Distributed Risks Vol. 38 Núm. 148 Pág. 298-311 | 2014 | Revista de la Academia Colombiana de ciencias exactas, físicas y naturales |
Yáñez Canal, Sergio
Escobar, Luis A.
González, Nelfi
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