Análisis longitudinales rack y stack de la complejidad percibida en el entorno

• Autores: Vanessa Yanes Estévez, Juan Ramón Oreja Rodríguez
• Localización: Modelos de Rasch en administración de empresas: nuevas perspectivas / coord. por Isabel Montero Muradas, Jaime Febles Acosta, Juan Ramón Oreja Rodríguez, Zenona Eutropia González Aponcio, Ángel M. Ramos Domínguez, Vanessa Yanes Estévez, 2008, ISBN 978-84-691-2215-0, págs. 249-260
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)