From defect reduction to reduction of waste and customer/stakeholder satisfaction (understanding the new TQM metrology)

• Autores: Jens J. Dahlgaard, Su Mi Park Dahlgaard
• Localización: Total quality management, ISSN 0954-4127, Vol. 13, Nº 8, 2002, págs. 1069-1085
• Idioma: inglés
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